荧光光谱仪原理

　　导读：本文首要介绍的是荧光光谱仪的原理，感兴趣的童鞋们快来学习一下吧~~很涨姿态的哦~~

　　荧光光谱仪剖析目标首要有各种磁性材料(NdFeB、SmCo合金、FeTbDy)、钛镍回忆合金、混合稀土重量、贵金属饰品和合金等，以及各种形状样品的无标半定量剖析，关于均匀的颗[1]粒度较小的粉末或合金，成果接近于定量剖析的准确度。X荧光剖析快速，某些样品当天就可以取得剖析成果。合适课题研讨和出产监控。

　　X荧光光谱仪(XRF)由激起源(X射线管)和探测系统构成。X射线管发生入射X射线(一次X射线)，激起被测样品。受激起的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，而且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统丈量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的品种及含量。

　　X荧光光谱仪依据各元素的特征X射线的强度，也可以得到各元素的含量信息。近年来，X荧光光谱剖析在各行业使用场景规模不断拓宽，已成为一种大规模的使用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等一切的范畴，特别是在RoHS查验测验范畴使用得最多也最广泛。大多数剖析元素均可用其做多元化的剖析，可剖析固体、粉末、熔珠、液体等样品，剖析规模为Be到U。而且具有剖析速度快、丈量规模宽、搅扰小的特色。