X射线荧光光谱仪（XRF）的兄弟俩：WD-XRF和ED-

　　）是一种可以对多种元素进行快速、非破坏性测定的仪器，其作业原理可表述为：待测样品受射线的波长（或能量）和强度，即可进行待测元素的定性和定量剖析的光谱剖析仪器。）之间的元素，大范围的使用于地质、冶金、环境、石化、商检和考古等很多范畴。

　　XRF可分为波长色散型X射线荧光光谱仪（以下简称WD-XRF）和能量色散型X射线荧光光谱仪（以下简称ED-XRF）。1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Birks）制成世界上第一台WD-XRF，其作业原理为特征X射线经晶体分光再由探测器检测，探测器只需检测特征谱线的光子数。世界上第一台ED-XRF于1969年面世，其作业原理为特征X射线（荧光）当即进入半导体探测器并由多道脉冲剖析器做多元化的剖析，分光和计数两部分作业一起进行。

　　ED-XRF仪器结构较为简略，而WD-XRF较为杂乱。就定性剖析而言，当样品中需求快速定性或半定量剖析多个元素或不知道样品时，ED-XRF较为便利；当样品中所剖析元素含量较低时，WD-XRF更适合。别的，对形状不规则或易受放射性损害的样品，如液体（易挥发），有机物（有几率产生辐射分解），工艺品（有几率产生褪色）等，以及动态体系，如在催化，腐蚀，老化，磨损，改性和能量转化等与外表化学进程有关的研讨，选用ED-XRF剖析愈加有利。

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